缶板のプレストレッチによる残留応力

缶板の残留応力形成メカニズム：
プレストレッチ工程は、1.5%～3%の塑性変形によって圧延残留応力を除去しますが、新しい"W型"の応力分布（表面圧縮応力は-50MPa、中心部の引張応力は≤30MPa）を形成します。プレストレッチ率が2%未満の場合、残留応力低減率は40%以上低下します。

制御の重要パラメータ：
勾配温度制御による延伸（200～250℃）と時効処理を組み合わせる必要があり、応力の均一性を60%向上させます。検査には、き裂コンプライアンス法を使用し、圧延方向/横方向の応力差が≤15MPa、結晶粒配向の均一性偏差が＜5°であることを確認する必要があります。